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    产品中心

    半导体转塔式编带测试分选机TS205-HT

    产品信息

    设备参数:

    项目 参数
    型号 TS205-HT
    应用 半导体测试、检测与封装
    封装/设备类型 分立式引线封装:QFN、DFN、SOIC、SOT、SOP、PDFN、SOD,或需要下压力控制的产品
    下压力控制 测试站(动态):4-30N ±15%
    温度精度 50°C~100°C±2°C
    100°C~150°C±3°C
    Index Time 60ms
    性能特点 UPH>5000 (测试时间300ms)
    MTBA>2H
    MTBF>168H
    转换时间≤2H
    带自动剔除和料带替换(可选)
    自动卷盘更换(可选)
    用户界面 Windows 7彩色触摸屏
    语言:英文和简体中文,其他语言可定制
    接口 网络:以太网功能
    测试仪和激光器的I/O并行接口
    SECS GEM & SMV(可选)
    GPIB(可选)
    ESD 符合ANSI/ESD SP10.1标准
    ESD Class 0(可选)
    上料 振动盘、料管、料带
    下料 振动盘、料管、料带
    工艺流程 器件定向
    器件翻转
    最多8个测试站接触测试
    激光打标
    6面视觉检测
    散装、管装分选
    自动卷盘更换
    检测系统 1D/2D条码读取器
    2D/3D光学镜头(可选)
    标记、表面、5S检测
    料带内、密封后检测
    设施要求 工作电压:AC 220V 50Hz
    气压要求:正压≥0.5MPA
    负压:40~-80Kpa
    功率:7.5kw
    尺寸 外形尺寸:1300*1300*1800mm
    重量:1200kg
    标准 CE, UL

    *以上参数以实际产品为准

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